กระบวนการสอบเทียบสำหรับวงจรควบคุมของหน้าจอสัมผัสแบบ capacitive มักจะเกี่ยวข้องกับขั้นตอนต่อไปนี้:
1. การสร้างพื้นฐาน: วงจรควบคุมวัดและบันทึกค่าความจุเริ่มต้นของขั้วไฟฟ้าตรวจจับเมื่อแผงสัมผัสไม่ถูกแตะต้อง สิ่งนี้ให้การอ้างอิงพื้นฐานสำหรับการเปรียบเทียบระหว่างการตรวจจับการสัมผัส
2. การแมปจุดสัมผัส: วงจรควบคุมแจ้งให้ผู้ใช้โต้ตอบกับจุดเฉพาะบนแผงสัมผัส จุดเหล่านี้มักจะแสดงเป็นเป้าหมายหรือเครื่องหมายบนหน้าจอ เมื่อผู้ใช้สัมผัสกับแต่ละจุดวงจรควบคุมจะบันทึกค่าความจุที่สอดคล้องกัน
3. การวิเคราะห์ข้อมูล: วงจรควบคุมวิเคราะห์ค่าความจุที่บันทึกไว้ที่ได้จากจุดสัมผัส มันตรวจสอบความแปรปรวนและรูปแบบในข้อมูลเพื่อกำหนดลักษณะของแผงสัมผัส
4. การคำนวณการสอบเทียบ: การใช้ข้อมูลที่รวบรวมวงจรควบคุมจะคำนวณพารามิเตอร์การสอบเทียบที่จำเป็น พารามิเตอร์เหล่านี้ใช้ในการปรับความไวสัมผัสและชดเชยปัจจัยต่าง ๆ เช่นความแปรปรวนของแผงเสียงรบกวนและสภาพแวดล้อม
5. การปรับการสอบเทียบ: วงจรควบคุมใช้พารามิเตอร์การสอบเทียบที่คำนวณได้กับอัลกอริทึมการตรวจจับแบบสัมผัส การปรับนี้ช่วยให้มั่นใจได้ว่าการทำแผนที่ตำแหน่งสัมผัสที่แม่นยำและปรับปรุงประสิทธิภาพโดยรวมของหน้าจอสัมผัส
6. การทดสอบและการตรวจสอบ: วงจรควบคุมดำเนินการทดสอบเพื่อตรวจสอบประสิทธิภาพของการสอบเทียบ สิ่งนี้อาจเกี่ยวข้องกับการตรวจสอบความถูกต้องของการสัมผัสการตอบสนองและการจดจำท่าทาง หากจำเป็นกระบวนการสอบเทียบอาจถูกทำซ้ำหรือกลั่นเพื่อให้ได้ผลลัพธ์ที่ดีที่สุด
สิ่งสำคัญคือต้องทราบว่ากระบวนการสอบเทียบที่เฉพาะเจาะจงอาจแตกต่างกันไปขึ้นอยู่กับเทคโนโลยีหน้าจอสัมผัสและการใช้วงจรควบคุม ระบบหน้าจอสัมผัสบางอย่างอาจรวมกิจวัตรการสอบเทียบอัตโนมัติในขณะที่ระบบอื่น ๆ อาจต้องใช้ขั้นตอนการสอบเทียบด้วยตนเอง เป้าหมายของการสอบเทียบคือการปรับแต่งการทำงานของวงจรควบคุมทำให้สามารถตรวจจับการสัมผัสที่แม่นยำและเชื่อถือได้บนแผงหน้าจอสัมผัส